正確な劣化・寿命を個体別に検出できるEV用パワー半導体向け試験サービス

コメント

注目のコメント

• 川井 輝

  >[課題]
  寿命予測において、従来の高温逆バイアス試験は所定の時間内に劣化、故障した個数は分かっても、個体別の劣化経過や故障時刻を正確に把握することが困難だった
  [対策]
  同サービスでは高温逆バイアス試験と、データロガー／試験回路基板／故障検出装置（リーク電流測定器）を接続した同社独自開発の全自動ログシステムを組み合わせることで、個体別の劣化経過と故障発生の常時モニタリングを可能とした。